Реферат: Характеристики числовых показателей нерезервированного устройства

Расчет надежности ЭВМ

Большинство промышленных ЭВМ являются нерезервированными восстанавливаемыми объектами. Поэтому рассматривается методика оценки надежности устройств только этого класса.

При выполнении расчета считается, что время работы устройства соответствует периоду нормальной эксплуатации, интенсивности отказов элементов являются постоянными, распределение времени безотказной работы подчиняется экспоненциальному закону.

Предполагается также, что отказы элементов являются внезапными, полными и независимыми, при чем элементы и устройство в целом могут находиться в двух состояниях: работоспособном или неработоспособном.

Расчет надежности состоит в определении числовых показателей надежности: вероятности безотказной работы модуля - P ( t ) и среднего времени наработки на отказ -Т_ср по известным интенсивностям отказов комплектующих модуль ЭВМ элементов.

При этом считается, что, если выход из строя любого элемента приводит к выходу из строя всего модуля ЭВМ. Усредненные данные по интенсивностям отказов микросхем, электрорадиоэлементов, узлов и электрическим соединениям приведены в таблицах 1 и 2.

Расчетно-логическая схема нерезервированного устройства представляет собой цепочку последовательно соединенных элементов, отказ любого из которых приводит к отказу устройства в целом.

Интенсивности отказов элементов зависят от их электрической нагрузки, температуры окружающей среды и других факторов, учитываемых с помощью поправочных коэффициентов.

нерезервированный числовой показатель надежность

Таблица 1.- Интенсивности отказов комплектующих и электрических соединений

Таблица 2.- Интенсивности отказов комплектующих и электрических соединений

Интенсивность отказов элементовi-типа определяется по формуле

λ _i = λ _Oi ka_i ( T , k_H ), (1)

где λ _Oi — номинальная интенсивность отказов данного типа элементов при номинальной электрической нагрузке и нормальных условиях эксплуатации (табл.1,2)

к = к₁ к₂ к₃ — поправочный коэффициент на условия эксплуатации; к₁ — коэффициент, учитывающий влияние механических факторов; к₁ =1,07 (условия эксплуатации аппаратуры — наземная, стационарная, неамортизированная аппаратура); к₂ — коэффициент, учитывающий климатических факторов, к₂ = 2(для влажности 93 % при температуре +25 °С); к₃ — коэффициент, учитывающий влияние пониженного атмосферного давления; к₃ = 1 (нормальное давление).

Тогда

к= 1,07*2*1 = 2.14

a_i ( T, к_и ) — коэффициент, учитывающий влияние температуры Т окружающей среды и электрической нагрузки элемента.

к_н – коэффициент электрической нагрузки, представляет собой отношение рабочего значения электрического параметра к его номинальному значению, устанавливаемому нормативно-технической документацией. Температуру примем общей для всех ЭРИ: Т= 40 °С

Значения коэффициента электрической нагрузки для каждого типа элементов к_н :

· Для резисторов-0.6

· Для конденсаторов-0.6

· Для диодов-0.4

· Для микросхем-0.5

· Для транзисторов-0.6

В этом случае коэффициент a_i (T,k_H ) для используемых в модуле электрорадиоизделий (ЭРИ) будет равен:

· Для резисторов -0.76

· Для конденсаторов -0.8

· Для диодов-0.94

· Для микросхем-0.98

· Для транзисторов -0.51

Выбранные по таблицам 1, 2 значения λ _Oi , для используемых в модуле ЭРИ, и количество элементов каждого типа ЭРИ - m_i заносятся в таблицу 3.

Таблица 3.- Интесивности отказов по типам элементов

Используя полученные данные, вычисляется по формуле (1) интенсивность отказов каждого типа элементов.

Интенсивность отказов резисторов

λ_р = λ _{O р} k a _р ( T , k_H )10^-6 , 1/ч

Интенсивность отказов конденсаторов

λ_с = λ _{O с} k a _с ( T , k_H ) 10^-6 , 1/ч

Интенсивность отказов диодов

λ_д = λ _{O д0} k a _д ( T , k_H ) 10^-6 , 1/ч

Интенсивность отказов микросхем

λ_мс = λ _{O мс} k a _мс ( T , k_H ) 10^-6 , /ч

Интенсивность отказов транзисторов

λ_т = λ _{O т} k a _т ( T , k_H ) 10^-6 , 1/ч

Интенсивность отказов печатной платы

λ_пп = 0,7 10 ^-6 , 1/ч

Интенсивность отказов паяных соединений

λ_пс = λ _{O пс} k a _пс ( T , k_H ) 10^-6 , 1/ч

Интенсивность отказов соединителей

λ_со = λ _{O со} k a _со ( T , k_H ) 10^-6 , 1/ч

Интенсивность отказов кварца

λ_кв = λ _{O кв} k a _кв ( T , k_H ) 10^-6 , 1/ч

Определяется интенсивность отказов модуля в целом

Λ= ∑ λ _i m _i 10^-6 , 1/ч

Где i-тип элементов (резисторы, микросхемы и т.п.)

Определяется среднее время наработки на отказ

Т_{ср.расч} = 1/ Λ , ч

Определяется вероятность безотказной работы

Р(t) = e ^–Λt

Где t выбирается из ряда: 1000, 2000, 4000, 8000, 10000 ч.

Рассчитанное значение Р(t) не должно быть менее 0.85.

Преподаватель ЛФ МИКТ Рыжих В.Д.

Электрические аппараты

Оборудование летательных аппаратов

Расчеты структурной надежности систем

Лекции по твердотельной электронике

Разработка для контроля и определения типа логических интегральных микросхем методом сигнатурного анализа

Структурная надежность систем

Электронные схемы для дома и быта

Разработать лабораторный стенд для испытания устройств защиты судовых генераторов

Блок питания мониторов

Устройство конденсатора

Проектирование магистральной волоконно-оптической системы передачи с повышенной пропускной способностью

Отчет по практике

Блок интерфейсных адаптеров

Создание информационно-справочной подсистемы САПР конструкторско-технологического назначения. Интегральные микросхемы